阻抗型石英晶體微天平檢測技術與特點說明
點擊次數：1863 更新時間：2021-03-27
阻抗型石英晶體微天平基于耗散因子檢測技術的界面跟蹤探測系統(tǒng)進行分子與界面相互作用的研究，工作時，先將芯片放置于流動池中，將流動池固定于樣品平臺上，樣品平臺與電子單元和電腦主機連接，樣品通過蠕動泵流經流動池中的芯片上方；
通過軟件設置，電子單元對芯片兩面施加一個電壓隨后斷開，芯片發(fā)生振動、產生電信號并傳輸回電子單元，振動的頻率和振幅記錄在軟件系統(tǒng)里；
當樣品流經芯片上方，有物質吸附在芯片上或者將芯片上的物質沖走時，都會改變芯片的振動狀態(tài)并被記錄下來；
芯片振動狀態(tài)與芯片上方物質的改變量，包括質量，厚度，密度和柔軟程度有關，所以軟件通過數學分析的方法可以獲取芯片上方物質的這些變量。
測定吸附層質量，并同步提供粘彈性等結構信息。可測定多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附行為，同時可檢測分子的結構變化以及吸附與解析的動態(tài)過程。
阻抗型石英晶體微天平的特點：
1．測量低、中、高頻0.02～100MHz范圍內石英晶體諧振頻率、等效電阻。
2．第四代升級產品，頻率電調諧，機內帶可調負載電容。
3．頻率數顯，阻抗指針式顯示。
4．頻率測量精度≤5PPM，可選配更高精度頻標。
5．可選配八位頻率和四位PPM同時顯示，頻率上下限、分檔分選功能。
6．上下限頻率分別設置，超出范圍（不合格）時自動聲光報警。
